Uusi tutkimus julkaistu “Characterization of Heavily Irradiated Dielectrics for Pixel Sensors Coupling Insulator Applications”

The Frontiers in Materials Journal on julkaissut tutkimusartikkelin “Characterization of Heavily Irradiated Dielectrics for Pixel Sensors Coupling Insulator Applications” Semiconductor Materials and Devices -osiossaan. Okmeticin asiakastukipäällikkö Akiko Gädda on yksi tämän mielenkiintoisen tutkimusartikkelin kirjoittajista. Tutkimuksessa käytettiin Okmeticin boorilla seostettuja 150mm Magnetic Czochralski (MCz) piikiekkoja. Linkki tutkimusartikkeliin löytyy täältä.